| 一种在芯片测试阶段进行产品规格区分的方法 |
| 阳莎;崔继锋;廖传钦;朱建德; |
| 关键词：电源短路测试;规格区分;晶圆允收测试(WAT);电压标识;工艺波动 |
| 主要内容：介绍了逻辑电路IC芯片的两项重要参数(性能和功耗)与芯片的通用电源短路测试参数之间的强相关性。从而在IC芯片的量产阶段,利用晶圆测试阶段的通用电源短路参数进行分类的方法,来区分出不同性能和功耗规格要求的产品。在此基础上,根据通用电源短路参数 |
| 《半导体技术》 2017,42(02):153-159 |
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