| 应用一种新的TLP测试方法解决ESD所引起的系统软失效问题 |
| 刘蕊; |
| 关键词：ESD;TLP;测试方法;系统软失效 |
| 主要内容：随着电子产品的发展,ESD引发的问题越来越引起重视。TLP作为一种研究时域ESD事件下的集成电路技术和电路行为的方法,被广泛应用到终端产品防护性能设计、模块或集成电路芯片的防护性能研究中。本文通过介绍TLP的基本原理提出一种新的测试方法解决 |
| 《科技视界》 2017,(08):174+154 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
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