产业集群决策
 
发射光谱法测定金属钴中的16个元素
 
施平
关键词：发射光谱分析;金属钴;杂质元素
 
主要内容：金属钴经化学预处理后 ,其基体和杂质元素均转化为氧化物 ,用发射光谱法测定其中 1 6个杂质元素 ,该方法的测定范围可基本满足国标 GB6 51 7- 86中对一号钴与三号钴的分析要求 ,方法的相对标
 
《分析试验室》  2000(4).50-52
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
Copyright © 广东省科技图书馆（广东省科学院信息研究所）  
粤ICP备05059360号-1 详细地址：广州市先烈中路100号        
联系电话：020-37656525 咨询邮箱：stlib@stlib.cn
  •  

  • 微信公众号

仿站