| 粉末直接光谱法测定铝中杂质 |
| 曲培秀;何翠文; |
| 关键词：光谱法;测定下限;制备试样;晶型;杂质测定;元素分析;谱线黑度;灼烧温度;标准偏差;石墨电极; |
| 主要内容：提出了粉末光谱法测定Al及Al_2O_3中九个杂质元素的方法。考察了Al_2O_3晶型、制备试样时高温的灼烧对分析结果的影响。加入选择的缓冲剂,提高了方法的稳定性和灵敏度。各个元素的测定下限在0.00 |
| 《分析试验室》 1988(3).57-58 |
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