| 关于如何评价背景校正性能的探讨 |
| 何华焜; |
| 关键词：背景校正;背景吸收;原子吸收;校正法;塞曼;误差源;原子化;自蚀;光子噪声;吸光度; |
| 主要内容：石墨炉原子吸收光谱分析中的背景校正技术已有很大发展。除氘灯法外,塞曼法装置已经商品化,1983年美国IL公司生产了自蚀效应背景法的原子吸收分光光度计商品仪器。在实验研究中的背景校正法,以CEWM法效果 |
| 《分析仪器》 1987(1).48-51 |
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