| 超薄四面体非晶碳膜光学常数的精确测定 |
| 王慧娟; |
| 关键词：Co3O4;薄膜材料;超薄纳米片;电化学传感器;H2O2检测 |
| 主要内容：本文以电沉积的金属钴薄膜作为原材料,通过简单的氧化技术获得了薄膜前驱体材料,并进一步在35℃热处理条件下获得了超薄Co_3O_4纳米片薄膜材料.通过扫描电镜、X-射线衍射、透射电镜、等手段对材料的物理结构进行了深入分析,并通过循环伏安法(CV)表征了该薄膜材料的电化学活性.? |
| 《电化学》 2016(6).631-635 |
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