| 电子元件用含He纳米晶钛膜高温退火后的He相关缺陷变化 |
| 沈自才;佟欣;武博涵; |
| 关键词：电子辐照;聚酰亚胺;力学性能 |
| 主要内容：利用空间综合辐照试验系统和X射线光电子能谱分析(XPS)、热重等分析测试对空间电子辐射环境下聚酰亚胺薄膜力学性能演化及机理进行了研究。研究发现,聚酰亚胺薄膜的拉力、抗拉强度和断裂伸长率随着电子辐照注量的增加先增加而后指数减小。由热重分析可知,电子辐照可引起聚酰亚? |
| 《强激光与粒子束》 2016(5).199-204 |
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