| 纳米分辨近场光学显微成象技术现状 |
| 吴世法 简国树 |
| 关键词：近场光学 扫描近场光学显微镜 S－SNOM PSTM |
| 主要内容：介绍了纳米分辨近场光学显微成象技术现状，近场光学显微成象技术大体可分为小孔扫描近场光学显微镜（Ａ－ＳＮＯＭ）、无孔径用射扫描近光学显微镜（Ｓ－ＳＮＯＭ）和光子扫描隧道显微镜（ＰＳＴＭ）三种基本类型，除介绍这三类近场光学显微镜简要成象原理、现状和各自特点外，还重点介绍了大连理工大学纳米成象技术研究组ＰＳＴＭ的研究进展，即ＰＳＴＭ消假象数值模拟和实验研究结果，其实验空间分辨首次达到２．８ｎｍ线扩展函数 |
| 《中国图象图形学报：A辑》 2000(8).-625-631 |
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