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荧光寿命成像显微的频域外差法测量及数据处理方法研究
屈军乐 朱憨笨
关键词:荧光寿命 成像显微 外差测量 零差测量
主要内容:介绍了一种实现荧光寿命成像显微的方法-频域外差法,研究并改进了相位调制度数据的逐步点分析法,设计了相应的数据处理软件,通过对模拟数据的处理表明,该分析法具有很高的处理精度。
《应用激光》 1998,18(2).-49-52
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
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