产业集群决策
 
基于光探针的超高速波形数字化测试系统的应用
 
田小建 张大明
关键词：光探针 集成电路芯片 波形数字化测试
 
主要内容：
 
《电子科学学刊》  2000,22(2).-346-349
全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp
Copyright © 广东省科技图书馆（广东省科学院信息研究所）  
粤ICP备05059360号-1 详细地址：广州市先烈中路100号        
联系电话：020-37656525 咨询邮箱：stlib@stlib.cn
  •  

  • 微信公众号

仿站