| 低于量子破坏性测量理论极限的闭环光电流噪声压缩 |
| 印建平[1] 王育竹[2] |
| 关键词：光电负反馈 光电流噪声压缩 量子破坏性测量 |
| 主要内容：采用光电流负反馈技术，分别在半导体发光／激光器件和可调谐染料激光中产生并观察到压缩量为－１３ｄＢ，－１４．８ｄＢ和－８．９ｄＢ的闭环光电流噪声压缩。这些实验结果均已突破由量子破坏性测量所给出的理论极限，为传统的量子测量理论所无法解释。文章采用光电流或光场反相关态的概念，正确解释了这一实现现象。 |
| 《电子学报》 1999,27(2).-48-51 |
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