| 用Z扫描法测量a—Si／SiO2多量子阱材料非线性折射率 |
| 周赢武 郭亨群 |
| 关键词：Z扫描 a－Si／SiO2 多量子阱 光学非线性 |
| 主要内容：利用Ｚ扫描法和波长为０．５３μｍ、脉宽为１０ｎｓ的调Ｑ－Ｎｄ：ＹＡＧ激光器测量了ａ－Ｓｉ／ＳｉＯ２多量子阱材料的三阶非线性折射率。并对该材料光学非线性的产生机理作用了探讨。 |
| 《光电子．激光》 1999,10(5).-431-433 |
| 全文下载请进入http://hightech.stlib.cn/tpi_1/sysasp/include/index.asp |
微信公众号