| 显微镜系统 |
| US13276698 2011-10-19 发明申请 |
| 2012-4-26 |
| 一种作为用于观察样本的光学显微镜系统的显微镜系统，包括 : 成像光学系统，其形成来自样本的透射光或反射光的图像； 照明光源，其照明所述试样上的照明光； 照明光学系统，所述照明光学系统具有第一空间光调制元件，所述第一空间光调制元件改变所述成像光学系统的光瞳的共轭位置处的照明光的强度分布，并且将源自所述照明光源的光照明在所述样本上； 图像传感器，其检测通过所述成像光学系统的光； 以及计算部，基于由所述第一空间光调制元件形成的照明光的强度分布和由所述图像传感器检测的输出数据，计算适合于观察所述样本的照明光的强度分布。 |
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