| 一种结构的方法和装置，用于显微镜成像的样品 |
| EP11185708 2011-10-19 发明申请 |
| 2012-4-25 |
| beschrieben指示ein的方法和eineeinrichtung用于lichtmikroskopischenabbildung的probenstruktur。ESwird模具probenstrukturMITmarkernprpariert，模具在einenlichtmikroskopischabbildbarenzustandüüberfhrbar指示，eineaktive标记物-teilmengeerzeugt; indemeinteilDER标记在DENlichtmikroskopischabbildbarenzustandberfüührtwird，和beivorliegen的vorbestimmtenaktivierungszustands，在DEM模具在DERaktiven标记-teilmengeenthaltenen标记einenmittlerenabstandvoneinanderhaben，DERgrerALSeindurch模具auflsungsgrenzeDERlichtmikroskopischenabbildungvorbestimmterminimalabstandIST，模具probenstrukturaufeineanordnungVonsensorelementenabgebildet，模具jeweilseinbildsignalerzeugen，wobeidiese在ihrerbildsignalegesamtheiteineinzelbildDERprobenstrukturergeben。DASvorliegenDESvorbestimmtenaktivierungszustandswirdgeprüFT，在具有zeitlichenabstandmindestenszweiPrüfeinzelbilderindemerzeugtwerden，和zumindestfüreinenteilDERsensorelementejeweils模具nderungDESbildsignalszwischenDENbeidenPrüfeinzelbildernerfasstwird。DASvorliegenDESvorbestimmtenaktivierungszustandswirdfestgestellt，wenn模具erfasstennderungenDER在ihrergesamtheiteinevorbestimmteGREbildsignaleübersteigen。 |
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