| 一种扫描电子显微镜进行粉末状样品形貌观察的分析方法 |
| CN201110236938.X 2011-8-18 发明申请 |
| 2012-4-18 |
| 本发明提供了一种扫描电子显微镜进行粉末状样品形貌观察的分析方法，包括以下步骤：A、准备好样品支架，在支架上贴好双面导电铜胶；B、将粉末样品自然撒落于导电铜胶的表面；C、将支架和粉末样品一起整体接触工作操作台面振动几次，利用惯性，使一部分粉末和导电铜胶自然黏合；D、使用氮气枪向支架和黏合于其上的粉末进行充分的吹拭，使得仅有少量与导电铜胶黏附强的粉末留下；E、对样品进行镀金处理；F、使用扫描电子显微镜进行观察。本发明带来的有益效果是：通过本发明方法能够有效、安全地进行粉末样品的扫描电子显微镜观察，并得到高清晰度、良好衬度的扫描电子显微镜二次电子图像。 |
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