| 用扫描探针显微镜的探针产生待测样品的粗颗粒模拟图像的装置 |
| US12440714 2007-3-29 发明授权 |
| 2012-4-17 |
| 控制部分中的样本原子配置创建部分创建样本的原子排列数据，样本表面高度计算部分计算每个网格的样本表面高度。 探头轮廓创建部分创建探头的原子排列数据，探头表面高度计算部分计算每个网格的探头表面的高度。 探头扫描部分将扫描范围内的扫描开始位置的坐标提供给碰撞高度指定部分。 碰撞高度指定部分计算每个网格中样品表面和探针之间的距离。 在该测量位置的坐标处，对于探头的所有网格重复计算该距离。 |
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