非同调穿透式电子显微镜
 
TW100119896  2011-6-7  发明申请

2012-4-16
 
  本发明提供一种穿透式电子显微镜,包括:一电子源,系用以产生一电子束,以电子束用光学元件,聚焦电子束;一像差矫正器,系用以至少矫正电子束至少一种球面像差;一试片座,系用以托持一试片于电子束路径上;以及一侦测器,系用以侦测穿过试片之电子束,其中,穿透式电子显微镜操作于一非同调模式下,并可用以定位在分子上的一序列目标。
 
仿站