| 一种用扫描霍尔探针显微镜以纳米分辨率测量磁场矢量3分量的方法 |
| US13313805 2011-12-7 发明申请 |
| 2012-3-29 |
| 扫描霍尔探针显微镜用于以纳米分辨率测量磁场矢量的3个分量，方法是将霍尔探针连接到压电扫描器的端部，然后将样品粘附到样品保持器上，然后在光学显微镜下以大约×40倍的放大率定位SHPM头，然后将滑块向后移动大约30步，或者使用马达、压电或其它定位器将传感器或样品向后移动足够的量，使得信号衰减到可以忽略的水平； 然后将恒温器的温度或设定到所需的温度，然后在梯度计或正常条件下偏移霍尔传感器的零点，最后通过SPM控制程序设定扫描面积、速度、分辨率和采集通道。 |
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