| 干扰物镜和具有相同的显微镜装置 |
| JP2010061763 2010-3-18 发明申请 |
| 2011-10-6 |
| 要解决的问题 : 以提供一干扰具有一高NA的物镜和一长工作距离作为以及一简化的配置，并提供一种具有所述干扰显微镜装置的物镜。溶液 : 所述干扰物镜透镜10包括 : 一个参考反射镜12; 一个用于拆分光学路径分束棱镜11的照明光从光源31到行进的光朝向样品34和光射向参考镜12; 和一个物镜系统20包括一个光路分离棱镜11和包括多个透镜的包括一个第一透镜组21所述光学路径之间设置分光棱镜11和样品34，和一个第二透镜组22所述光学路径之间设置分光棱镜11和参考反射镜12。照明光，由被入射在所述光学路径通过所述透镜分光棱镜11构成所述物镜透镜系统20，被分割成光，向该样品34的行进通过第一透镜组21，和光射向被一个参考反射镜12通过第二透镜组22。然后，反射的光，通过被制成以获得穿过第一透镜组21从该标本34; 和反射的光，通过被制成以获得穿过第二透镜组22从所述参考镜12; 被叠加通过所述光学路径分束棱镜11，以形成干涉条纹。版权 : (C)2012，inpit |
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