| 透射电镜样品架的制作方法 |
| US12391552 2009-2-24 发明授权 |
| 2011-5-3 |
| TEM样品保持器由至少一个纳米操纵器探针尖端和TEM样品保持器预成型件形成。 在将样品附着到光纤内的探针尖端的点之前,探针尖端被永久地附着到TEM样品保持器预成型件上,以产生TEM样品保持器。在将样品附着到光纤内的探针尖端的点之前,探针尖端被永久地附着到TEM样品保持器预成型件上,以产生TEM样品保持器。 在优选实施例中,通过对预成形件和探针尖端施加压力,将探针尖端附接到TEM样品保持器预成形件,从而引起预成形件材料围绕探针尖端的塑性流动。 TEM样品保持器可以具有比TEM样品保持器预成型件更小的尺寸; 在这种情况下,TEM样品保持器从较大的TEM样品保持器预成形件上切下,优选地在与附接探针尖端相同的操作中。 |