| 时间分辨紫外射线的近场扫描光学显微镜及其使用和测量的方法 |
| KR1020100083709 2010-8-27 发明申请 |
| 2012-3-7 |
| 目的 : 一种时间分辨紫外射线的近场扫描光学显微镜和一种使用所述相同的测量方法是提供以一种半导体化合物的快速增加发光效率使用一种紫外射线。结构 : 一光源(10)照射紫外射线。一种物镜(20)所述紫外射线照射到样品上。一种探针(30)发出检测光从该样品。一分光镜(40)检测一期望的波长的光根据所检测到的光之间的所述样品。时间相关的单光子计数器(60)测量光发射通过一个tcspc所述样品的消光时间(时间相关的单个光子计数)的方法。版权kipo2012 |
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