程序用于所生产的一种用于一光栅探针显微镜探针尖端作为阱作为测量探针还在该过程制造的探针尖端
 
DE102010035931  2010-8-31  发明申请

2012-3-1
 
  本发明涉及一种方法用于制造一种用于一种扫描探针显微镜测量尖端,在其上的一个现有的用于该对应的显微镜测量尖端,其测量的至少一些区域的尖端被涂覆有金刚石,在至少一个金刚石针是从所产生的金刚石涂层,其中所述的针伸出超过所述现有的测量尖端。应用还涉及一种测量具有一测量探针尖端产生根据所述的方法。
 
仿站