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透射电子显微镜中广角会聚束衍射的取向成像

US13192443 2011-7-27 发明申请

2012-2-2

介绍了用动力学理论研究纳米材料的取向成像显微术(OIM)的方法，这些方法通常是用过渡电子显微术(TEM)来实现的。所公开的方法可以通过生成具有至少三个衍射盘的衍射图案来使用广角会聚束电子衍射来执行OIM，所述衍射图案可以提供否则不可用的附加信息。