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使用从纳米颗粒发射的光的透射显微镜
US12501068 2009-7-10 发明申请
2011-1-13
本发明公开了用于对样品材料执行透射显微镜检查的系统和方法。 将样品材料放置在金属纳米颗粒衬底上。 将高强度光(例如红外激光器)聚焦在纳米颗粒衬底上,从而激发银纳米颗粒。 受激纳米粒子发射强聚焦,光谱宽的白光,即使当样品材料高度扩散时,该白光也能够通过样品材料而没有明显散射。 探测穿过样品材料的发射光,并将其用于产生图像和表征样品材料的特征,包括样品材料的内部结构组成。
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