| 用X射线显微镜和投影系统检查矿物样品的方法 |
| US12421380 2009-4-9 发明授权 |
| 2011-11-29 |
| 描述了用X射线CT系统测定矿物样品的孔隙率和/或矿物含量的方法。 基于使用空间分辨率的X射线检测器来记录穿过样品的X射线辐射的直接投影技术，可以实现1微米或更高的分辨率。 此外，通过使用X射线物镜来放大显微镜配置中的X射线图像，利用现有技术可获得高达50纳米或更高的分辨率。 这些X射线CT技术直接获得样品的3D结构，而不需要对样品进行修改。 此外，在数据采集期间经常可以进行流体或气体流动实验，以便可以在3D中执行物理过程的实时监控。 |
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