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透射电子显微镜直接电子探测器的使用方法

US13096865 2011-4-28 发明申请

2011-11-3

一种在TEM中使用直接电子检测器的方法，其中在所述检测器上成像具有高强度峰值的图像，例如衍射图或EELS光谱。众所周知，高强度峰值可能损坏检测器。为了避免这种损坏，移动图像的中心，结果不是检测器的一个位置暴露于高强度，而是高强度涂抹在检测器上，在损坏结果之前移动高强度峰值。