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所述的位置的过程和系统用于所述控制一个显微镜物镜
AT1604032009 2009-5-15 译文
2011-10-15
一个用于控制所述显微镜透镜的位置的方法包括接收一个参考信号对应到一参考位置。该显微镜的透镜; 接收一个测量信号对应于一个所述显微镜透镜的实际位置; 接收一个预定的位置偏差信号的特性偏差,从所述参考位置; 和使用该测量信号,该偏差信号和所述参考信号以产生一位置控制信号用于使用在设定该所述显微镜透镜的位置。
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