| 显微镜和过程用于所述收集的样品的光 |
| DE102010013829 2010-3-26 发明申请 |
| 2011-9-29 |
| 样品的光显微镜和用于所述收集过程，与至少一个照明墨，沿他的横截面部分与调制频率的一个phasemodulates和一用于所述强度调制的聚焦显微镜物镜的所述的照明喷射到一个样品以及作为一个检测光线的路径与至少一个解调器，由此favourably至少一个(eom)是优选的是使用电光调制器用于相位调制的至少一个部分，所述的照明墨或不同的一半辐射段-或半所述照明的墨通过gegenphasige控制piezoelementen的不同，优选gegenphasig，以被调制或acustooptical调制器，用于分配在多个部分的光线的路径以及作为光学元件用于所述部分的相位调制所建议的墨被预期作为阱作为favourably位置的元件，用于调整该相位差异意图是或至少一个光学调制器是优选使用的，一个(aom)acustooptical调制器，以检测中所述解调或一个改变所述检测器，用于解调所述的模式的操作的发生或与一种fokiverteilung，例如产生通过一个旋转后微透镜盘或以一种multispoterzeugung所述einzelfoki所述intentsittsmodulation被施加，或者通过装置一个半无限的空间相位掩模在一个所述物镜的光瞳电平或由单一的影响每个部分墨通过沿其横截面与一调制频率部分phasemodulated一种射流通过他的或影响沿其横截面与一调制频率是部分地phasemodulated和其以下的分配。 |
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