| 显微镜系统 |
| JP2010058121 2010-3-15 发明申请 |
| 2011-9-29 |
| 要解决的问题 : 以提供一显微镜系统，用于测量样品的三-维位置和一荧光该样品的光谱。溶液 : 所述的显微镜系统，用于测量所述三个所述样品的三维位置和所述的荧光光谱所述样品通过使用光学显微镜包括一个光源，用于获取一种明亮的所述样品的场图像，一光源用于获取所述样品的荧光图像，二向色镜，用于将所述成像侧上的光学路径为一种亮场的光学路径图像和所述的荧光图像的光学路径，一个图像采集部分用于获取所述的亮场图像和所述的荧光图像，一磁场产生部分，用于给出一种张力以该样品通过产生一个磁场，和一个分析部分，用于计算该三-维位置的所述样品从由所述图像采集所得到的亮场图像部分。版权 : (C)2011，inpit |
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