| 基于微尺度探针的纳米尺度近场扫描光学显微镜 |
| US12387642 2009-5-4 发明申请 |
| 2009-11-5 |
| 到目前为止，扫描近场光学显微镜的探针旨在产生最大限度地定位在纳米尺寸点附近的电磁场特性(小孔径和尖端，荧光纳米颗粒和分子，电介质和金属角)。 或者，分布在较大区域内的探测场也可以保证超分辨率。 为此，场谱应该用对应于小样本维度的高空间频率来丰富。 作为这种近场探针的例子，我们提出并理论上研究具有包含尖锐线性边缘和随机分布的纳米颗粒的端面的光纤的模型。 这些探针比常规探针更坚固，并且它们的制造不涉及纳米级精度。 所述探针能够以边缘损耗将光波导到样品和从样品中波导出，从而更完全地分配和利用入射光。 数值模拟表明，即使具有显著的测量噪声，所建议的探针也能分辨出明显小于探针尺寸的物体，并且在某些情况下，其性能优于微型纳米探针。 |
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