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近场光学显微镜与光学成像系统

EP10154313 2010-2-23 发明申请

2011-8-24

本发明涉及一种用于导电近场光学测量装置的一个样品包括一个光学成像系统，所述使用这种装置和以一种方法用于调整所述的探针或所述的照明所述探针在这种一种装置。