| 过程和装置，用于调整一个合适的用于荧光显微镜评估参数 |
| DE102010007730 2010-2-12 发明申请 |
| 2011-8-18 |
| 一个用于设置一个用于一个荧光显微镜评估参数的方法包括在一个样品发出荧光激发染料颗粒和检测荧光的光从所述颗粒。一种图形表示的所述荧光的光的分布被确定和一信号被产生用于显示该图形表示中使用一显示单元上。该图形的每个子区域表示是具有一个相关联的一个光量的比较值，其是代表该子区域中。一种预定的阈值作为一种相比到所述比较值评估参数和。所述子区域具有一个比较值，其被大于该门限值是所述显示单元上的标记与预定的标记，所述门限值被改变和该比较值被比较以所述改变的阈值值。所述标记的区域被定义为事件和一完整基于所获得的样品是在所述事件的图像。 |
微信公众号