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像差校正暗场电子显微镜
US13024961 2011-2-10 发明申请
2011-8-11
透射电子显微镜包括产生电子束的电子束源。 提供束光学器件以会聚电子束。 像差校正器校正电子束的至少一个球面像差。 提供试样保持器以将试样保持在电子束的路径中。 一个探测器被用来探测穿过样品的电子束。 透射电子显微镜在暗场模式下操作,其中电子束的零束未被检测到。 显微镜也能够在非相干照明模式下操作。
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