光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱
 
DE10329756  2003-7-2  发明授权

2011-6-22
 
  一光栅与一个装置到所述荧光显微镜相关光谱被揭示。所述光栅显微镜,其特征在于,所述事实所述的照明光的强度和\/或那些是所述测量体积内的检测灵敏度在时间上和\/或被在空间上调制的。
 
仿站