| 超分辨率显微镜 |
| CN201010580742.8 2010-12-9 发明申请 |
| 2011-6-15 |
| 本发明涉及超分辨率显微镜。提供了一种用于观察包含具有至少两种或更多种量子态的物质的样本的超分辨率显微镜，该超分辨率显微镜包括：光源部，其输出用于将物质从稳定态激励为第一量子态的第一照明光、和用于进一步使物质转变到另一量子态的第二照明光；光学系统，其包括显微镜物镜并以使分别从光源部输出的第一照明光和第二照明光彼此部分交叠的方式将这些光会聚到样本上；检测部，其检测响应于第一照明光和第二照明光的会聚而从样本发射的光学响应信号；以及偏光控制元件，其设置有转变第一照明光或第二照明光的偏光状态的偏光部件以及与偏光部件一体形成并对第二照明光的相位进行空间调制的相位调制部。 |
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