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方法和操作扫描探针显微镜的装置

WOUS10058607 2010-12-1 发明申请

2011-6-9

一种改进的AFM成像模式(峰值力轻敲(PFT)模式)使用力作为反馈变量来减小尖端-样本由实现的扫描速度相互作用力，同时维持所有现有AFM操作模式。样品成像和机械特性映射具有改进的分辨率和高样本吞吐量实现，与模式可以在变化的环境，包括气体，液体和真空。容易使用方便，通过消除需要一种专家用户监视成像。