操作扫描探针显微镜的方法和装置
 
MYPI2012002436  2010-12-1  发明申请

2011-6-1
 
  一种改进的AFM成像模式(峰值力抽头(PFT)模式)(10)使用力作为反馈变量以减少尖端-样本相互作用力,同时保持所有现有AFM操作模式(10)可达到的扫描速度。 以改进的分辨率和高的样品(22)通过量实现样品成像(22)和机械性能映射,该模式可在包括气体,流体和真空的变化环境中工作。 通过消除对专家用户监视成像的需要,方便了使用。 最具说明性的附图是图10
 
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