| 基于微分干涉对比度和/或表面等离子体辅助干涉的片上相位显微镜/光束剖面仪 |
| US12823201 2010-6-25 发明申请 |
| 2011-3-17 |
| 一种差分干涉对比度(DIC)确定装置和方法，利用照明源、具有从照明源接收照明的一对两个孔的层、以及光检测器来接收来自通过所述一对两个孔的照明的杨氏干涉。 此外，一种表面波辅助的光流控显微镜和方法利用照明源、具有具有至少一个孔作为表面的层的流体通道、以及接收基于通过孔的照明的信号的光检测器。 该层被波纹化(例如，通过制造)，并且波纹化的参数优化在光电检测器上接收的信号。 |
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