| 晶体取向的识别系统和传输电子显微镜 |
| JP2009108652 2009-4-28 发明申请 |
| 2010-11-11 |
| 要解决的问题 : 分析一通过使用一种微细晶粒的晶体取向的电子束衍射图像; 和以自动化的快速分析一种多点晶体取向分析。溶液 : 该传输电子显微镜用于检测传输电子通过与电子束照射一样品包括一个电子光束衍射图像的成像部分用于成像的电子束衍射图像的所述样品，一种检测部分，用于获取该样品组合物的信息，一个用于获取信息分析部的晶格平面间隔从所述电子束衍射图像，一材料从所述获取的识别部分，用于识别所述样品组合物的信息和所述信息的所述晶格平面间隔，和一个操作部分用于操作一个衍射从所述识别所述样品的样品图像信息。在该显微镜，基于所述样品被指定的所述液晶的取向在一个所述操作之间的偏差量衍射图像和电子束衍射图像。版权 : (C)2011，inpit |
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