| 用于检查该系统用于计算机控制显微镜载物的LED光源 |
| JP2010518356 2008-7-23 发明申请 |
| 2010-11-11 |
| 显微对象的检查装置。多个发光二极管排列在阵列下部的透镜。一些所述LED点亮时和发光二极管的打不燃的一些。计算机控制的LED阵列。计算机接通选择从阵列以形成发光二极管发光的LED。而且，计算机关闭选择从所述阵列以形成打不燃的LED发光二极管。发光的LED形成图案点亮LED的透镜下面的。在一个优选实施例中，所述透镜连接到电脑控制摄像头和显微对象的微观晶体。在另一个优选实施例中的UV LED利用从上方照射晶体。在另一个优选实施例中的UV发光二极管利用Hampton照明回路的销来定位晶体在回路的Hampton销用于X-射线晶体学的目的。 |
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