用于激光扫描显微镜的微分偏振测量扩展单元
 
US12679888  2008-9-26  发明申请

2010-9-30
 
  本发明涉及一种用于确定材料的微分偏振量的微分偏振激光扫描显微镜(DP-LSM),包括 : 激光光源(L),用于扫描样品并用相干光和单色光照射;显微镜单元(ME),具有样品保持器,用于提供预选的光学放大率和成像;以及偏振状态设置单元(PAA),位于照射光路中(光源和样品保持器之间)。 所述显微镜还具有位于所述观察光路中的检测器(D1、D2)、位于所述检测器前面的至少一个滤波器保持器和用于处理所述检测器的电信号的信号处理单元(VE)。 在DP-LSM显微镜中,光学元件(DP)位于包括照明光束和观察光束的公共光路中,用于分离正交偏振分量。
 
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