| 导电纳米管探针，使用所述相同的电特性评价装置，和扫描探针显微镜 |
| JP2009057279 2009-3-11 发明申请 |
| 2010-9-24 |
| 要解决的问题 : 以提供一个导电纳米管探针具有降低电阻，和一电特性评价装置和一扫描显微镜，其中使用所述探针。溶液 : 一圆锥形均匀的金属膜是一种碳纳米管上设置接合到导电基材通过一金属以降低电阻，从所述纳米管探针的一个端向其根。所述金属膜可以是两个或更多层的多层金属膜。这种锥形结构允许要提供一个低电阻导电纳米管探针，其中，仅其端部使接触在探测在直径被降低。版权 : (C)2010，inpit |
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