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产业专利数据

用于在透射电子显微镜中模拟图像形成的装置、方法和模拟对象

US12279737 2007-2-16 发明申请

2010-9-2

一种用于基于一阶玻恩近似模拟TEM行为的装置和方法，所述方法包括以下步骤 : -提供虚拟样品的至少一个数学模型；-当对样品成像时模拟TEM中的成像，所述模拟基于完全解释一阶玻恩近似范围内的电子的波性质的成像模型和TEM仪器的成像性质的一个模型。这特别适用于解决ET中的结构确定问题。