通过量化和加强二维对称性和周期性来评估和增强扫描探针显微镜性能的系统
 
US12660422  2010-2-25  发明申请

2010-9-2
 
  扫描探针显微镜(SPM)图像通过加强一个或多个对称性来增强,所述对称性可以基于合适的傅立叶系数振幅或相角残差、和/或几何Akaike信息标准、和/或互相关技术来选择。 或者,这种选择可以基于样品特征的先验知识。 此外,基于通过增强至少一个对称性对校准图像的评估来获得扫描显微镜点扩展函数,并且扫描显微镜点扩展函数可应用于其它图像采集。
 
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