| 校正背景信号的方法和显微镜 |
| CN202311050491.6 2023-8-18 发明申请 |
| 2024-2-23 |
| 本发明涉及一种用于校正模拟探测器(3)的捕获的测量值中的背景信号的方法，其中分析在参考时间段内捕获的对象的测量值，并确定捕获的背景信号的特征值。其特征在于，基于至少一个特征值并通过应用计算规范来确定阈值(Sw)；阈值(Sw)被应用于模拟探测器(3)的捕获的测量值，并且只有那些大于阈值(Sw)的测量值被用于后续的信号评估。本发明还涉及一种用于实施根据本发明的方法的显微镜(M)。 |
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