产业专利数据
 
试样观察的方法，光学显微镜，和荧光相关分析仪
 
JP2008316489  2008-12-12  发明申请
2010-6-24
 
  要解决的问题 : 使用一个真空中浸入式物镜，和以观察试样在真空与高聚光能力和高-分辨率。溶液 : 该样品观察方法中，一个样品W和一个浸物镜10被设置在一真空室2，和所述样品W被观察到。在该真空，所述浸物镜10的一个所述端之间的空间和所述样品W是填充与一个非-蒸发离子液体16。版权 : (C)2010，inpit
 
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