| 用于自干扰荧光显微镜检查的系统和方法，以及与之相关联的计算机可访问介质 |
| EP08798993 2008-8-29 发明申请 |
| 2010-6-2 |
| 示例性装置和\/或方法可以提供使用它，它是可能的，以提供相关信息与至少一个一种样品的部分。例如，在接收到的至少一个电-磁辐射从所述至少一个所述样品的部分可以被第一分离成多个的辐射，一个第一的辐射具有一个相位延迟，其是不同的从一个相位延迟的另一第一的辐射。另外，在至少一个的第一可以接收到的辐射和分离成第二的照射下，根据所述接收的至少一个的第一波长的辐射。进一步，它是可能的，以检测第二所述的辐射并产生关于一种位置信息在至少一个部分的至少一个所述的样品作为一种功能特性的至少一个的干扰所述第一辐射。根据另一示例性实施例中，它是可能的，以提供系统，方法和计算机可访问介质，在其数据与第一相关联的辐射可以被获得，和所述关于一种位置信息的所述的至少一个部分该样品可以被产生。这种信息可以通过分离第二产生基于所述数据与所述部分相关联的辐射(S)的所述样品根据至少一个的第二波长的辐射。例如，一个第二的辐射可以具有一个从一个相位延迟是不同的相位延迟另一的一个第二的辐射，和第二的辐射可以被干扰。 |
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