| 用于检查样品的近场显微镜，具有物镜的光路径中设置用于显微观察对象，和凹面镜E。G。抛物面镜，聚焦的激发光穿过物镜，在对象 |
| DE102008057096 2008-11-13 发明申请 |
| 2010-5-20 |
| 近场显微镜用于调查的一个对象(103)，综合光学元件(106，304)，一种照明光路; 其分别设置用于使所述对象建议向所述的照明光(103)，和一个光路径的示意图，其分别设置用于使光用于显微观察的对象(103)，且并排，一个物镜(101，301)，其被设置在所述统一的照明光路和说明的光路径，和其中的是外设置用于显微观察所述物体(103); 一中空镜(102)，其设置和外设置为，顺序中建议的光，其通过所述的物镜(101，301)。以聚焦在所述物体(102)。 |
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