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产业专利数据

对在电子显微镜下研究的样品的漂移校正的自动化应用

US17585222 2022-1-26 发明授权

2024-2-13

公开了用于校准透射电子显微镜的方法和系统。样品架上的基准标记用于识别已知的参考点，从而可以定位样品架上的电流收集区域和通孔。进行多个射束电流和射束面积测量，并且从针对全范围的显微镜参数的测量结果外推校准表。然后使用校准表来确定在给定配置下的实验期间样品的电子剂量。