| 泵浦探针测量装置和使用该装置的扫描探针显微镜装置 |
| US12516800 2007-11-28 发明申请 |
| 2010-4-8 |
| 一种泵浦探针测量装置(1)，包括用于产生第一超短光脉冲串的超短光脉冲激光发生器(11)， 变成泵浦光， 以及第二超短光脉冲串， 变成探照灯， 延迟时间调节单元(15)，用于调节超短光脉冲串之间的延迟时间， 第一脉冲拾取器和第二脉冲拾取器(13， 14)，用于接收第一和第二超短光脉冲串中的每一个，并且仅允许一个脉冲以任意重复周期发射，从而降低光脉冲的有效重复频率；延迟时间调制单元(10)，用于周期性地改变第一和第二脉冲拾取器(13，14)发射脉冲的位置；照射光学系统(16)，用于将泵浦光和探测光施加到样品(19)；测量单元(20)，用于检测来自样品(19)的探测信号；以及锁定放大器(18)。 |
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